FLASH闪存IC测试座BGA152转DIP48烧录座图片
GA152探针翻盖转DIP48测试座
产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
（可更换限位框，购买前请联系客服或留言，谢谢。）
产品展示
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