QFN32-0.4间距下压老化座尺寸4*4图片
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QFN32-0.4下压弹片测试座
产品简介
产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN32引脚间距0.4mm
测试座:QFN32-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN-32-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:32
芯片尺寸:5*5
实物图拍：
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